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電子元器件在出廠前都需要進行老化測試。老化就是藉由讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內出現，避免在使用早期發生故障。如果不藉由老化，很多半導體成品由于器件和制造制程復雜性等原因在使用中會產生很多問題。 對于步進電機驅動器老化測試主要有這幾種方式：
1、驅動器性能測試。主要集中在驅動器效率、諧波分析、三相不平衡度分析、干擾分析等測試項目；
2、驅動器響應測試。主要是通過電機測試臺架，給電機施加不同的負載，觀察負載變化時電機驅動器能否根據算法快速地調節電機的工作狀態，評估驅動器的響應性能。
3、驅動器老化測試：主要測試驅動器抗老化能力。
以上三種就是步進電機驅動器老化測試方式。具體測試原理及測試方案可以參考漢德保電機測試系統。
下面是對漢德保ED系列步進驅動器進行測試。我們把驅動器設置到7.2A電流，長達48小時老化測試。
步進電機驅動器老化測試

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ED系列標準型混合伺服驅動器采用**專用電機控制DSP芯片和矢量閉環控制技術，徹底克服開環步進電機丟步的問題，同時明顯提升電機高速性能、降低電機發熱和減小電機振動，提升機器加工速度和精度，具有與交流伺服系統同樣的可靠性，方便傳統步進驅動方案升級，成本僅相當于交流伺服系統的一半。

規格參數



型號
Model
ED08~34
最小值
典型值
**值
單位
**峰值電流
-
-
8
A
輸入電源電壓
20
36
70
VDC
邏輯輸入電流
7
10
16
mA
脈沖頻率
-
200
-
kHz
絕緣電阻
500
-
-
MΩ

文章來源：http://www.hdbmotor.com/Article/bjdjqdqszy.html

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